КнигоПровод.Ru30.11.2024

/Наука и Техника/Физика

Труды ФТИАН; Т. 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование — Орликовский А. А., ред.
Труды ФТИАН; Т. 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование
Научное издание
Орликовский А. А., ред.
год издания — 2009, кол-во страниц — 176, ISBN — 978-5-02-036976-4, язык — русский, тип обложки — мягк., масса книги — 310 гр., издательство — Наука
серия — Труды ФТИАН
цена: 499.00 рубПоложить эту книгу в корзину
Р е ц е н з е н т ы:
д-р ф.-м. наук К. В. Руденко
д-р ф.-м. наук В. Ф. Лукичев

Утверждено к печати Учёным советом Физико-технологического института РАН

Формат 70x100 1/16. Печать офсетная
ключевые слова — наноэлектрон, наноэлектромех, квантов, перенос, многоям, нанотранзистор, туннельн, графен, межподзон, электромиграц, точечн, плазмен, мэмс

Сборник, посвящённый 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др.). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещённой зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкоплёночных проводников, прочности границы соединённых материалов в зависимости от их микроструктуры и содержания точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, даётся обзор плазменных процессов в технологии МЭМС.

Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.

Книги на ту же тему

  1. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника: физика, технология, диагностика и моделирование, 2005
  2. Физико-статистические основы квантовой информатики, Богданов Ю. И., 2011
  3. Введение в квантовую теорию информации, Холево А. С., 2002
  4. ВЧ МЭМС и их применение, Варадан В., Виной К., Джозе К., 2004
  5. Нанотехнологии в микроэлектронике, Агеев О. А., Коноплёв Б. Г., ред., 2019
  6. Нанотехнологии для микро- и оптоэлектроники. — 2-е изд., доп., Мартинес-Дуарт Д. М., Мартин-Палма Р. Д., Агулло-Руеда Ф., 2009
  7. Точечные дефекты в полупроводниках. Теория, Ланно М., Бургуэн Ж., 1984
  8. Квантовые процессы в полупроводниках, Ридли Б., 1986
  9. Квантовая теория явлений электронного переноса в кристаллических полупроводниках, Зырянов П. С., Клингер М. И., 1976
  10. Плазменная технология в производстве СБИС, Айнспрук Н., Браун Д., ред., 1987

© 1913—2013 КнигоПровод.Ruhttp://knigoprovod.com