2.1.1. Изображение оптической неоднородности (18). 2.1.2. Симметричные неоднородности (19). 2.1.3. Плазма как оптическая неоднородность (20).

2.2.1. Пространственное разрешение (21). 2.2.2. Яркость источника (22). 2.2.3. Когерентность излучения (22). 2.2.4. Предельные параметры зондирования (23). 2.2.5. Синхронизация зондирующих лазеров (25). 2.2.6. Ультрафиолетовое и рентгеновское зондирование (29).

2.3.1. Комплекс оптической диагностики (31). 2.3.2. Теневое изображение ударной волны (33). 2.3.3. Пространственное разрешение (33). 2.3.4. Рефракция в оптической неоднородности (35). 2.3.5. Чувствительность теневого и шлирен-фотографирования (36). 2.3.6. Погрешность измерения фронта ударной волны (37).

2.4.1. Пространственное разрешение (40). 2.4.2. Типы интерферометров (42). 2.4.3. Контрастность интерференционной картины (45). 2.4.4. Зона «непрозрачности» (48). 2.4.5. Голографическая интерферометрия (50).

2.5.1. Спонтанные магнитные поля и вращение плоскости поляризации пробного пучка (53). 2.5.2. Выбор длины волны пробного пучка и направления зондирования лазерной плазмы (55). 2.5.3. Поляриметрический, интерферометрический и теневой каналы диагностического комплекса для исследования спонтанных магнитных полей (57). 2.5.4. Определение направлений магнитного поля (60). 2.5.5. Методические особенности диагностических схем (62).

2.6.1. Алгоритм обработки (65). 2.6.2. Решение обратной задачи (65). 2.6.3. Интерферометрия лазерной плазмы (66). 2.6.4. Критерий выбора степени полинома (69). 2.6.5. Точность восстановления (70). 2.6.6. Обработка по методу изолиний (74).

3.1.1. Спектральные и пространственные характеристики гармоники 2ω_o (77). 3.1.2. Фоторегистрация движения области критической плотности (80). 3.1.3. Эволюция формы спектра гармоники 2ω_o и динамика области критической плотности (84). 3.1.4. Диагностические возможности использования высоких целых гармоник (87).

3.2.1. Спектральные и пространственные характеристики гармоники 3/2ω_o (88). 3.2.2. Измерение характерного размера неоднородности плотности плазмы (92). 3.2.3. Скоростная фоторегистрация спектра гармоники 3/2ω_o и измерение электронной температуры плазмы в области n_c/4 (94). 3.2.4. Оптимизация условий эксперимента для одновременной диагностики электронной температуры и скорости протекания плазмы по спектру гармоники 3/2ω_o (96). 3.2.5. Диагностические возможности использования других полуцелых гармоник (99).

4.2.1. Исследование плазменных волн, возбуждаемых при двухплазмонной распадной неустойчивости (103). 4.2.2. Исследование электронных и ионно-звуковых волн, возбуждаемых при ВКР и ВРМБ (115).

4.3.1. Исследование плазменной турбулентности, созданной Nd-лазером (116). 4.3.2. Идентификация механизмов возбуждения волн в экспериментах с СО₂-лазером (119).

5.1.1. Регистрация с разложением в спектр и в дискретных интервалах (125). 5.1.2. Метод ядерной эмульсии (126). 5.1.3. Метод поглотителей (126).

5.2.1. Фотоэмульсионный детектор (133). 5.2.2. Сцинтилляционный детектор (136). 5.2.3. Термолюминесцентный детектор (137). 5.2.4. Ядерная эмульсия (138). 5.2.5.Приборы с зарядовой связью (139). 5.2.6. Комплексное использование различных детекторов (140). 5.2.7. Приборы для исследования эволюции спектра рентгеновского излучения (сцинтилляционные, вакуумно-диодные, полупроводниковые, электронно-оптические, микроканальные) (142).

5.3.1. Спектрографы с кристаллическими диспергирующими элементами (148). 5.3.2. Спектрографы с диспергирующими элементами на основе многослойных интерференционных зеркал (157). 5.3.3. Спектрографы с отражающими дифракционными решётками (159). 5.3.4. Спектрографы с пропускающими дифракционными решётками (162). 5.3.5. Синхротронное излучение и калибровка аппаратуры (167).

5.4.1. Определение электронной температуры и ионизационного состояния (171). 5.4.2. Определение электронной плотности (173).

6.2.1. Отражающие элементы рентгенооптики (178). 6.2.2. Микроскоп Киркпатрика- Баеза (181). 6.2.3. Микроскоп Вольтера (182). 6.2.4. Микроскопы на основе многослойных интерференционных структур (182). 6.2.5. Кристалл-дифракционный спектроселективный микроскоп (185).

6.3.1. Амплитудная зонная пластина (185). 6.3.2. Фазовая и киноформная зонные пластины (188).

7.1.1. Точечный источник для теневого фотографирования (210). 7.1.2. Эксперименты с точечным рентгеновским источником (211). 7.1.3. Протяжённый зондирующий источник (212). 7.1.4. Применение протяжённого рентгеновского источника (213).

7.2.1. Регистрация динамики сжатия оболочечной мишени (216). 7.2.2. Рентгеновское зондирование со спектральным разрешением (217). 7.2.3. Обработка рентгеновских тенеграмм (218). 7.2.4. Диагностика спектров поглощения зондирующего излучения (219).

7.3.1. Принципы рефрактометрии неоднородной плазмы (220). 7.3.2. Особенности рентгеновской рефрактометрии (221). 7.3.3. Метод сеток (222).

8.1.1. Времяпролётные измерения (226). 8.1.2. Формирование ионного пучка (227). 8.1.3. Энергетическое и зарядовое разрешение (228). 8.1.4. Влияние остаточного давления (228).

8.2.1. Принцип действия ионного коллектора (229). 8.2.2. Вторичная электронная эмиссия (230). 8.2.3. Обработка ионных сигналов (231).

8.3.1. Магнитные масс-спектрометры (233). 8.3.2. Электростатические анализаторы (236). 8.3.3. Использование перезарядки ионов (239). 8.3.4. Оптический анализатор ионов (239). 8.3.5. Анализатор нейтральных частиц (241). 8.3.6. Трековые детекторы (242).

8.4.1. Камера отклонения ионов (245). 8.4.2. Апертурная система (247). 8.4.3. Система регистрации масс-спектров (250). 8.4.4. Обработка масс-спектрограмм (252).

8.5.1. Времяпролётный анализатор (256). 8.5.2. Сцинтилляционные детекторы (256). 8.5.3. Активационные детекторы (259). 8.5.4. Измерения момента генерации нейтронов (260). 8.5.5. Регистрация изображений нейтронного маятника (262).

9.1.1. Метод измерения лазерной энергии и всех энергетических потерь (264). 9.1.2. Метод сравнительных калориметрических измерений (265). 9.1.3. Экспериментальная реализация калориметрических методов измерения баланса энергии. Измерительный комплекс (266). 9.1.4. Калориметрические измерения при высокой неоднородности рассеяния лазерного излучения (268).

9.2.1. Измерение кинетической энергии разлетающейся плазмы (270). 9.2.2. Измерение энергии рентгеновского излучения плазмы (270). 9.2.3. Специальный метод прямого измерения поглощённой энергии (277).

9.3.1. Трансформация поглощённой энергии в энергию ударной волны (278). 9.3.2. Измерение энергии ионизирующей ударной волны (279).

10.2.1. Высокоскоростная интерферометрия (284). 10.2.2 Рентгеновская спектроскопия многослойных мишеней (288). 10.2.3. Ионная масс-спектрометрия (293).

10.3.1. Метод баллистического маятника (297). 10.3.2. Ускорение и столкновение тонких фольг (301). 10.3.3. Ударные волны в тонких мишенях (305).

11.1.1. Регистрация изображений в собственном излучении ядра (309). 11.1.2. Излучение примесных газов (311). 11.1.3. Спектроскопия линий примесных ионов (312). 11.1.4. Спектроскопическое измерение плотности сжатого ядра (314). 11.1.5. Спектры поглощения (315). 11.1.6. Рентгеновское зондирование с использованием внешнего источника (315).

11.2.1. Область применения масс-спектрометрического метода (318). 11.2.2. Спектры заряженных частиц (319). 11.2.3. Ядра отдачи (321).

11.3.1. Времяпролётные измерения температуры ионов сжатого ядра (322). 11.3.2. Активационная диагностика параметра <ρΔr> (322). 11.3.3. Активационная диагностика параметра <ρr> (323).

11.4.1. Спектры вторичных протонов и нейтронов (324). 11.4.2. Выходы вторичных частиц (325). 11.4.3. Области применимости методов диагностики <ρr> (327).